本發(fā)明提供了一種定量探測類
鈣鈦礦薄膜的氧八面體旋轉(zhuǎn)和電荷密度波晶格畸變的方法,先在襯底上生長類鈣鈦礦薄膜,再退火得到產(chǎn)生氧缺陷及晶格畸變的薄膜樣品;放在衍射儀中,通過設(shè)定不同(H,K,L)得到不同的半指數(shù)峰強(qiáng)度值I(H,K,L)。將氧原子位置(u
n,v
n,w
n)與薄膜樣品的氧八面體旋轉(zhuǎn)角度α,β,γ和晶格畸變度Δ之間建立模型,形成I
exp與氧八面體旋轉(zhuǎn)角度α,β,γ及晶格畸變度Δ之間的方程關(guān)系,再將多組(H,K,L,I
exp)代入衍射方程中,使用基于遺傳算法的非線性尋優(yōu)算法得到氧八面體旋轉(zhuǎn)角度α,β,γ和晶格畸變度Δ。上述方法能夠準(zhǔn)確測定類鈣鈦礦氧化物薄膜的氧八面體旋轉(zhuǎn)角度和晶格畸變程度。
聲明:
“定量探測類鈣鈦礦薄膜的氧八面體旋轉(zhuǎn)和電荷密度波晶格畸變的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)