一種檢驗(yàn)鈮酸鋰或鉭酸鋰單晶質(zhì)量的方法,其特征是采用超聲脈沖回波測試技術(shù),通過插入損耗檢測法,聲衰減檢測法,回波圖形畸變檢測法這三種方法來檢驗(yàn)晶錠的任意區(qū)域的質(zhì)量,以及通過掃描方法檢驗(yàn)晶錠整體質(zhì)量的均勻性。適用于晶體質(zhì)量檢驗(yàn);晶體生長工藝,晶體極化工藝的研究。
聲明:
“檢驗(yàn)鈮酸鋰或鉭酸鋰單晶質(zhì)量的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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