本申請揭示了一種地質(zhì)屬性獲取方法及裝置,所述方法包括:根據(jù)測井解釋曲線,獲得測井所對應地質(zhì)樣本空間中各樣本點的屬性信息,所述樣本點的屬性信息包括樣本點所在地質(zhì)樣本空間中的坐標值和地質(zhì)屬性值;通過對各樣本點的屬性信息進行處理,獲得所述地質(zhì)樣本空間面向樣本點的屬性分布規(guī)律;根據(jù)所述地質(zhì)樣本空間面向樣本點的屬性分布規(guī)律,計算所述地質(zhì)樣本空間中各未知點的地質(zhì)屬性值;將所述樣本點和所述未知點的地質(zhì)屬性值作為所述地質(zhì)樣本空間的地質(zhì)屬性分布。根據(jù)本申請所提供方法,能夠精確獲得地質(zhì)樣本的地質(zhì)屬性分布規(guī)律,為所要進行的地質(zhì)勘探提供重要依據(jù)。
聲明:
“地質(zhì)屬性獲取方法及裝置、電子設備、存儲介質(zhì)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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