本發(fā)明公開一種輕小型沖擊過載測試裝置,該裝置以ARM
芯片為控制核心,控制信號的采集、存儲、傳輸以及與PC機(jī)的交互。該裝置具有兩個(gè)獨(dú)立的信號采集通道,兩通道能夠同步采集沖擊信號,最大采樣率可達(dá)1MHZ,可以適配IEPE沖擊加速度傳感器。該裝置內(nèi)部采用
鋰電池供電,續(xù)航時(shí)間超過2小時(shí),并能夠通過USB接口進(jìn)行充電。本發(fā)明采用小型化、模塊化、嵌入式設(shè)計(jì),重量為280g,半徑24.5mm,高26.8mm,裝置內(nèi)部對PCB組件及鋰電池進(jìn)行整體灌封處理,能夠經(jīng)受50000g的過載沖擊。本發(fā)明具有體積小、重量輕、一體化、抗高過載的優(yōu)點(diǎn),適合于在惡劣的發(fā)射環(huán)境中對安裝體積要求嚴(yán)格的沖擊過載測試。
聲明:
“輕小型沖擊過載測試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)