本發(fā)明公開了一種用于SLED光源的譜寬測量裝置及方法,裝置包括待測量SLED光源、第一光電探測器、第二光電探測器、第三光電探測器、光纖環(huán)形器、3×3光纖耦合器、光功率在線測量計、第一2×2光纖耦合器、第二2×2光纖耦合器、光纖鈮酸鋰相位調(diào)制器、第一法拉第旋轉(zhuǎn)反射鏡、延遲光纖線、第二法拉第旋轉(zhuǎn)反射鏡和數(shù)據(jù)終端,用于測量SLED光源譜寬的光路途徑至少為兩條,且存在兩條兩束光路發(fā)生干涉。本發(fā)明的用于SLED光源的譜寬測量裝置及方法,能快速精確測量SLED光源的譜寬,成本低廉,使用方便,具有良好的應(yīng)用前景。
聲明:
“用于SLED光源的譜寬測量裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)