本發(fā)明公開了一種利用X射線熒光熔片法快速測定輕燒鎂球中的氧化鎂含量的方法,所述方法包括:熒光樣片的制備:將輕燒鎂球和四硼酸鋰助熔劑混合后進行熔樣,得到熒光樣片;利用X射線熒光光譜儀對熒光樣片進行Mg元素分析,測試熒光樣片中Mg的強度和含量。解決了傳統(tǒng)的標準方法操作步驟比較繁瑣,分析時間長,且方法需使用硝酸銨試劑等危險試劑,對分析者操作技能較高的問題。
聲明:
“利用X射線熒光熔片法快速測定輕燒鎂球中的氧化鎂含量的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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