本發(fā)明公開(kāi)了一種基于MCU的高耐壓雙隔離CAN收發(fā)器測(cè)試電路技術(shù)裝置，屬于測(cè)試電路技術(shù)領(lǐng)域，它包括數(shù)據(jù)信號(hào)處理與檢測(cè)裝置、FR4基板，所述數(shù)據(jù)信號(hào)處理與檢測(cè)裝置包括信號(hào)處理芯片、通用MCU、雙路CAN收發(fā)器、USB通信接口芯片、SD卡存儲(chǔ)芯片、LCD顯示屏幕、4.2V通用鋰電池、配置電路芯片，所述通用MCU、雙路CAN收發(fā)器、USB通信接口芯片、SD卡存儲(chǔ)芯片、LCD顯示屏幕和配置電路芯片連接于FR4基板的上表面上，所述通用MCU與雙路CAN收發(fā)器之間采用雙隔離的方式布設(shè)。本發(fā)明提高了測(cè)試的可靠性和易實(shí)現(xiàn)性，具有良好的實(shí)用價(jià)值。