本實(shí)用新型涉及一種基于比色陣列技術(shù)的爆炸物氣氛探測(cè)儀,該探測(cè)儀是由采樣模塊、圖像采集模塊、ARM板卡、FPGA板卡、液晶顯示模塊、
鋰電池、電源開關(guān)組成,在使用時(shí),打開探測(cè)儀前段滑蓋,按照液晶顯示模塊提示并點(diǎn)擊是的圖標(biāo),撕掉微納比色傳感
芯片上層保護(hù)膜并將微納比色傳感芯片插入芯片卡槽,按照液晶顯示模塊提示并點(diǎn)擊完成的圖標(biāo)后,將滑蓋閉合,將探測(cè)儀采樣口指向待測(cè)區(qū)域,進(jìn)行吸氣采樣,采樣結(jié)束后等待3s左右即可得到具體檢測(cè)結(jié)果,該探測(cè)儀可以實(shí)現(xiàn)炸藥和易制爆原料痕量檢測(cè),操作簡(jiǎn)單,克服了試劑依次檢測(cè)時(shí)效性差的缺點(diǎn),同時(shí)增強(qiáng)識(shí)別準(zhǔn)確性,結(jié)構(gòu)上克服復(fù)雜操作,實(shí)現(xiàn)一鍵操作全區(qū)域檢測(cè)。
聲明:
“基于比色陣列技術(shù)的爆炸物氣氛探測(cè)儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)