本發(fā)明公開(kāi)了一種基于二維充電法的地質(zhì)勘探方法。它通過(guò)充電法對(duì)一定范圍內(nèi)的地質(zhì)進(jìn)行探測(cè)獲取二維充電法電位數(shù)據(jù)，對(duì)二維充電法電位數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，去除二維充電法電位數(shù)據(jù)中的正常場(chǎng)數(shù)據(jù)后獲取對(duì)應(yīng)的異常場(chǎng)數(shù)據(jù)，通過(guò)異常場(chǎng)數(shù)據(jù)體現(xiàn)地質(zhì)的實(shí)際分布情況。本發(fā)明采用充電法獲得二維充電法電位數(shù)據(jù)后，對(duì)二維充電法電位數(shù)據(jù)中提取正常場(chǎng)后再獲得對(duì)應(yīng)的異常場(chǎng)數(shù)據(jù)，采用異常場(chǎng)數(shù)據(jù)對(duì)地質(zhì)情況進(jìn)行解釋而不是采用原始數(shù)據(jù)進(jìn)行解釋?zhuān)ㄟ^(guò)本發(fā)明的勘探方法得到的地質(zhì)分布情況更精確。