本發(fā)明涉及一種礦石顆粒形狀、質(zhì)量、密度指標(biāo)概率分布的預(yù)測方法,包括以下步驟:采用標(biāo)準(zhǔn)篩序篩子對全粒級入料礦石顆粒進行篩分;從篩分產(chǎn)品中選擇窄粒級礦石顆粒樣本;檢測每個窄粒級顆粒樣本的形狀指標(biāo);稱量每個單顆粒礦石的質(zhì)量,并根據(jù)顆粒質(zhì)量與體積的比值,獲得每個單顆粒的密度;計算每個形狀、質(zhì)量和密度性質(zhì)指標(biāo)數(shù)據(jù)集的平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差;顆粒的長度、寬度、高度、體積、面積、長徑比和圓形度等形狀指標(biāo)的數(shù)據(jù)集分別采用最大極值分布、正態(tài)分布、威布爾分布、對數(shù)正態(tài)分布、對數(shù)正態(tài)分布、威布爾分布和威布爾分布來描述其概率分布密度;顆粒的質(zhì)量和密度指標(biāo)的數(shù)據(jù)集分別采用對數(shù)正態(tài)分布和Logistic分布來描述其概率分布密度。
聲明:
“礦石顆粒形狀、質(zhì)量、密度指標(biāo)概率分布的預(yù)測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)