本發(fā)明公開了一種光學(xué)性能檢測裝置及光學(xué)性能檢測方法,所述光學(xué)性能檢測裝置包括:雷達底座,與所述雷達底座相對設(shè)置的背景板,驅(qū)動所述背景板移動,以調(diào)節(jié)所述雷達底座與所述背景板之間的距離的移動組件,以及用于拍攝所述背景板的相機組件;所述背景板靠近所述雷達底座的一側(cè)設(shè)有刻度。本發(fā)明的光學(xué)性能檢測裝置及光學(xué)性能檢測方法可以同時測出雷達的光束發(fā)散角以及出射光軸水平角度,節(jié)約時間,提高檢測效率,且通過軟件對多點位置自動計算,減小測量誤差,保證每個光學(xué)參數(shù)檢測的準確性和穩(wěn)定性。
聲明:
“光學(xué)性能檢測裝置及光學(xué)性能檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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