本發(fā)明公開了一種光纖電纜性能檢測方法及裝置,方法為,光纖電纜性能檢測裝置根據(jù)每一段光纖電纜對應(yīng)的光放板標(biāo)稱光功率,衰減參數(shù),計算對應(yīng)的光纖電纜的標(biāo)稱光功率;并將從網(wǎng)管服務(wù)器中獲取的當(dāng)前時刻每一段光纖電纜的實際光功率,分別與對應(yīng)的光纖電纜的標(biāo)稱光功率進行比較,將比較結(jié)果不在預(yù)設(shè)的正常衰減值范圍內(nèi)的光纖電纜作為存在性能隱患的光纖電纜;輸出所有存在性能隱患的光纖電纜的檢測結(jié)果。采用本發(fā)明技術(shù)方案,通過光纖電纜性能檢測裝置,確定存在性能隱患的光纖電纜標(biāo)識,無須人工計算確定存在性能隱患的光纖電纜,從而有效提高了光纖電纜性能檢測效率,大大降低了性能檢測成本,提高了性能檢測準(zhǔn)確率。
聲明:
“一種光纖電纜性能檢測方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)