本公開涉及一種中間層應(yīng)用的性能檢測(cè)方法、裝置、可讀介質(zhì)及電子設(shè)備,方法包括:接收用于指示對(duì)中間層應(yīng)用的性能進(jìn)行檢測(cè)的性能檢測(cè)指令;在中間層應(yīng)用處于運(yùn)行狀態(tài)時(shí),獲取中間層應(yīng)用的性能指標(biāo)參數(shù),其中,中間層應(yīng)用處于運(yùn)行狀態(tài)時(shí)能夠?qū)ι嫌畏?wù)器發(fā)送的請(qǐng)求進(jìn)行處理并發(fā)送至下游服務(wù)器以及接收下游服務(wù)器返回的結(jié)果;根據(jù)性能指標(biāo)參數(shù)和預(yù)設(shè)的每一類異常對(duì)應(yīng)的異常條件,對(duì)中間層應(yīng)用的性能進(jìn)行檢測(cè)。如此,直接通過(guò)將獲取的性能指標(biāo)參數(shù)與預(yù)設(shè)的每一類異常對(duì)應(yīng)的異常條件進(jìn)行匹配,即可準(zhǔn)確得到中間層應(yīng)用的性能檢測(cè)結(jié)果,提高了對(duì)中間層應(yīng)用性能檢測(cè)的自動(dòng)化程度,進(jìn)而提升了對(duì)中間層應(yīng)用的性能檢測(cè)效率。
聲明:
“中間層應(yīng)用的性能檢測(cè)方法、裝置、可讀介質(zhì)及電子設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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