本實(shí)用新型涉及一種用于電路板性能檢測(cè)的電檢機(jī),解決了常見人工對(duì)電路板進(jìn)行性能檢測(cè)的工作效率較低的問題,其技術(shù)方案要點(diǎn)是,包括:機(jī)殼;承載于所述機(jī)殼內(nèi)的、用于對(duì)電路板進(jìn)行夾持或解夾持的夾持組件;用于對(duì)所述電路板上的觸點(diǎn)進(jìn)行性能檢測(cè)的測(cè)試電筆;承載于所述測(cè)試電筆一側(cè)的、用于對(duì)所述電路板上的觸點(diǎn)位置進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)鏡頭;承載于所述機(jī)殼內(nèi)的、驅(qū)動(dòng)所述測(cè)試電筆相對(duì)所述電路板移動(dòng)的驅(qū)動(dòng)組件;以及,電連接于所述檢測(cè)鏡頭的控制器;所述機(jī)殼的側(cè)壁上開設(shè)有供所述電路板部分伸出的、以供所述電檢機(jī)對(duì)不同規(guī)格的所述電路板進(jìn)行性能檢測(cè)的通孔,達(dá)到高效對(duì)電路板進(jìn)行性能檢測(cè)的目的。
聲明:
“用于電路板性能檢測(cè)的電檢機(jī)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)