本申請涉及中子探測領(lǐng)域,提供了一種中子探測器性能檢測方法、裝置、系統(tǒng)、計算機設(shè)備和存儲介質(zhì)。本申請可提高中子探測器性能檢測的準(zhǔn)確性。該方法包括:通過獲取待測中子探測器采集的多個原始脈沖,獲取多個原始脈沖的脈沖特征信息,將脈沖特征信息與包含性能判斷特征與中子探測器已知性能信息之間的多組映射關(guān)系的性能判斷特征集進(jìn)行匹配,獲得匹配到的性能判斷特征對應(yīng)的已知性能信息,將該已知性能信息作為待測中子探測器的性能檢測結(jié)果。
聲明:
“中子探測器性能檢測方法、裝置、系統(tǒng)和計算機設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)