本申請(qǐng)公開了一種磁盤性能檢測(cè)方法,通過在獲取到目標(biāo)服務(wù)器中多個(gè)磁盤對(duì)應(yīng)的盤符列表之后,利用計(jì)算機(jī)程序調(diào)用預(yù)先存儲(chǔ)的腳本,利用腳本為性能測(cè)試工具設(shè)置檢測(cè)參數(shù),并驅(qū)動(dòng)性能測(cè)試工具對(duì)盤符列中的多個(gè)磁盤進(jìn)行性能檢測(cè),從而避免了現(xiàn)有技術(shù)中需要技術(shù)人員手動(dòng)地為性能測(cè)試工具設(shè)置檢測(cè)參數(shù),并且需要為多個(gè)磁盤重復(fù)進(jìn)行設(shè)置檢測(cè)參數(shù)而造成的人力資源的消耗,因此,本方法節(jié)約了在進(jìn)行多磁盤檢測(cè)時(shí)所需的人力資源。本申請(qǐng)還公開了一種磁盤性能檢測(cè)裝置、設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),均具有上述有益效果。
聲明:
“一種磁盤性能檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)