本發(fā)明公開(kāi)了一種多光譜紫外成像光學(xué)性能檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法。目前尚未有成熟的關(guān)于雙光路、多光譜光學(xué)系統(tǒng)光學(xué)性能檢測(cè)的設(shè)備和方法。本發(fā)明的一種多光譜紫外成像光學(xué)性能檢測(cè)系統(tǒng)，包括一個(gè)多譜段光源、一個(gè)平行光管和一個(gè)多維度轉(zhuǎn)臺(tái)，所述的多譜段光源包含紫外、可見(jiàn)和紅外波段的光；所述的平行光管內(nèi)部采用折返式光學(xué)系統(tǒng)，用于實(shí)現(xiàn)折返式光路，所述的折返式光學(xué)系統(tǒng)包括位于平行光管內(nèi)部?jī)蓚?cè)的多面曲率不同反光鏡，多譜段光源發(fā)出的光線進(jìn)入平行光管內(nèi)，經(jīng)折返式光路后平行射出；所述的多維度轉(zhuǎn)臺(tái)置于平行光管前端，實(shí)現(xiàn)多維度轉(zhuǎn)動(dòng)。本發(fā)明可在同一系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)多光譜光學(xué)系統(tǒng)的光學(xué)性能檢測(cè)，為多光譜光學(xué)系統(tǒng)性能檢測(cè)提供方案。