本發(fā)明提供了一種熔斷器性能檢測裝置與方法,涉及熔斷器領(lǐng)域。該熔斷器性能檢測裝置包括采樣電阻、示波器、可編程電子負(fù)載以及電容器,采樣電阻、可編程電子負(fù)載依次串聯(lián),示波器與采樣電阻并聯(lián),電容器與可編程電子負(fù)載并聯(lián)。該熔斷器性能檢測裝置實現(xiàn)了即使在單脈沖持續(xù)時間小于5ms時,也可以進行精確脈沖試驗,適合進行方波脈沖試驗,另外,操作人員或裝置可以依據(jù)示波器的波形調(diào)整電容值,以避免因電容放電效應(yīng)而產(chǎn)生樣品意外損傷,從而產(chǎn)品性能分析十分精確。
聲明:
“熔斷器性能檢測裝置與方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)