本文屬于自動程序設(shè)計領(lǐng)域,具體涉及一種IO性能檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì),所述方法包括:當(dāng)檢測到IO操作時,確定與所述IO操作對應(yīng)的目標(biāo)調(diào)用函數(shù);確定所述目標(biāo)調(diào)用函數(shù)對應(yīng)的探針函數(shù);通過所述探針函數(shù)獲取所述目標(biāo)調(diào)用函數(shù)運行時的IO性能參數(shù);根據(jù)預(yù)設(shè)檢測策略,對所述IO性能參數(shù)進行性能檢測處理,通過探針函數(shù)對IO操作時的調(diào)用函數(shù)進行監(jiān)控,可以實現(xiàn)IO性能參數(shù)的快速獲得,同時還能減少對檢測目標(biāo)的性能影響,提高了IO性能檢測的可靠性,同時結(jié)合不同的預(yù)設(shè)檢測策略,可以實現(xiàn)多種監(jiān)控指標(biāo)的同時監(jiān)控,全面反映IO操作時的性能情況。
聲明:
“一種IO性能檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)