本實用新型屬于光學(xué)元件性能檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種用于光學(xué)元件性能檢測的試驗臺。該試驗臺包括基座和工件臺,所述基座用于支撐所述工件臺并能夠帶動所述工件臺共同移動,所述工件臺上設(shè)有橫向調(diào)節(jié)單元,所述基座包括支撐板,所述支撐板的下方設(shè)有可移動單元,所述可移動單元和所述支撐板之間設(shè)有高度調(diào)節(jié)單元,所述支撐板的上方的兩個對稱面上設(shè)有縱向調(diào)節(jié)單元,所述試驗臺的左、右兩側(cè)機架上均設(shè)有縱向限位單元。通過使用本實用新型所述的用于光學(xué)元件性能檢測的試驗臺,能夠為工件臺提供一個可調(diào)節(jié)的安裝基準(zhǔn)面,同時裝置本身具有能夠?qū)崿F(xiàn)平移運動,在工件臺搬運過程中無需借助外部工具,簡化了搬運過程。
聲明:
“用于光學(xué)元件性能檢測的試驗臺” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)