本實(shí)用新型公開(kāi)手機(jī)后蓋真空鍍膜納米膜層絕緣性能檢測(cè)裝置;包括主控制器、用以輸送真空鍍膜手機(jī)后蓋來(lái)料的來(lái)料輸送裝置、用以感應(yīng)真空鍍膜手機(jī)后蓋來(lái)料并對(duì)真空鍍膜手機(jī)后蓋來(lái)料進(jìn)行定位的來(lái)料感應(yīng)及定位裝置、用以測(cè)量定位好的真空鍍膜手機(jī)后蓋來(lái)料納米膜層電阻值的電阻自動(dòng)測(cè)量裝置、用以對(duì)絕緣性能檢測(cè)合格的真空鍍膜手機(jī)后蓋來(lái)料邊緣打產(chǎn)品標(biāo)識(shí)碼的激光打碼裝置及用以對(duì)絕緣性能檢測(cè)合格并打有產(chǎn)品標(biāo)識(shí)碼的真空鍍膜手機(jī)后蓋來(lái)料及絕緣性能檢測(cè)不合格的真空鍍膜手機(jī)后蓋來(lái)料背面進(jìn)行覆膜的來(lái)料背面覆膜裝置;效果:本實(shí)用新型可自動(dòng)測(cè)量真空鍍膜手機(jī)后蓋來(lái)料電阻值以評(píng)估其絕緣性能,使得節(jié)省人力,降低勞動(dòng)成本。
聲明:
“手機(jī)后蓋真空鍍膜納米膜層絕緣性能檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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