本發(fā)明涉及一種偏光片光學(xué)性能檢測(cè)系統(tǒng),包括旋轉(zhuǎn)臺(tái),所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)上驅(qū)動(dòng)設(shè)置有標(biāo)準(zhǔn)偏光片,所述標(biāo)準(zhǔn)偏光片兩側(cè)分別設(shè)置有光源和光學(xué)采樣裝置,所述標(biāo)準(zhǔn)偏光片與所述光學(xué)采樣裝置之間設(shè)置有待測(cè)偏光片;所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)通過(guò)驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng),所述光學(xué)采樣裝置連接有光譜儀;所述偏光片光學(xué)性能檢測(cè)系統(tǒng)通過(guò)供電電源供電。一種便捷式的偏光片光學(xué)性能檢測(cè)系統(tǒng),有效降低了傳統(tǒng)光學(xué)檢測(cè)對(duì)人工操作的依賴(lài)性。通過(guò)檢測(cè)系統(tǒng)能夠有效調(diào)節(jié)偏光片的狀態(tài),進(jìn)而用于測(cè)量偏光片的參數(shù)性能。
聲明:
“偏光片光學(xué)性能檢測(cè)系統(tǒng)及其檢測(cè)方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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