本發(fā)明公開了一種導體材料的動態(tài)力學性能檢測方法和裝置,屬于電磁檢測領域,所述方法包括:S1:置于瞬變磁場中所述導體材料加工的導體環(huán)在電磁感應作用下向外膨脹;所述導體材料的電導率大于預設值S2:獲取向外膨脹過程中所述導體環(huán)中最寬處的環(huán)內側應力σ
1和最寬處的環(huán)外側應力σ
2;S3:利用所述最寬處的環(huán)內側應力σ
1和所述最寬處的環(huán)外側應力σ
2計算所述導體環(huán)中最窄處的環(huán)內側應力σ
3,計算所述最窄處的環(huán)內側應力σ
3與最窄處的應變ε
3之間的映射關系,以表征所述導體材料的動態(tài)力學性能。本發(fā)明能夠實現高應變率加載情況下電?磁?熱?力多場耦合作用的導體材料動態(tài)力學性能檢測,檢測效率高且檢測結果準確率高。
聲明:
“一種導體材料的動態(tài)力學性能檢測方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)