本發(fā)明公開了一種高溫超導(dǎo)磁體性能檢測(cè)系統(tǒng),包括低溫恒溫系統(tǒng)、傳感器組件、能量吸收組件、勵(lì)磁電源裝置、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和監(jiān)控系統(tǒng);低溫恒溫系統(tǒng)包括真空容器以及制冷機(jī)和
真空泵機(jī)組;傳感器組件包括分布于磁體線圈的溫度傳感器、電壓傳感器、應(yīng)變傳感器和霍爾探頭;勵(lì)磁電源裝置包括直流電源和可編程控制器;數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)將各類傳感器信號(hào)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換;監(jiān)控系統(tǒng)對(duì)高溫超導(dǎo)磁體的性能參數(shù)進(jìn)行分析和失超監(jiān)測(cè);真空容器上設(shè)置有密封航插,分別連接數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和監(jiān)控系統(tǒng);還公開了其檢測(cè)方法;過對(duì)磁體多物理參數(shù)的數(shù)據(jù)采集與勵(lì)磁電源的監(jiān)控進(jìn)行程序化同步和集中管理,實(shí)現(xiàn)了高溫超導(dǎo)磁體性能的自動(dòng)化檢測(cè),提高了磁體性能檢測(cè)的效率和精確度。
聲明:
“一種高溫超導(dǎo)磁體性能檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)