本實(shí)用新型公開了一種發(fā)光材料性能檢測(cè)裝置,涉及發(fā)光材料檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。本實(shí)用新型包括檢測(cè)箱,檢測(cè)箱的兩側(cè)可拆卸連接有遮光片,檢測(cè)箱的后側(cè)可拆卸連接有分揀端,遮光片包括擋片、貫穿螺栓和密封條,擋片上靠近四角部位貫穿有貫穿螺栓,擋片的后側(cè)固定有密封條,貫穿螺栓與檢測(cè)箱螺紋連接,密封條抵接在檢測(cè)箱上,分揀端包括電動(dòng)推桿、推頭和連接板,連接板上可拆卸連接有電動(dòng)推桿,電動(dòng)推桿的輸出端固定有推頭,連接板的底側(cè)與支撐板的頂面抵接。該發(fā)光材料性能檢測(cè)裝置通過設(shè)置遮光片和分揀端與檢測(cè)箱連接,解決了現(xiàn)有的發(fā)光二極管在經(jīng)過發(fā)光材料檢測(cè)裝置檢測(cè)時(shí),容易導(dǎo)致發(fā)光二極管檢測(cè)裝置出現(xiàn)準(zhǔn)確率較低的問題。
聲明:
“一種發(fā)光材料性能檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)