本發(fā)明公開了一種路由器性能檢測(cè)方法、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及裝置,該方法包括:將待測(cè)無(wú)線路由器的天線設(shè)置于與輔助測(cè)試路由器呈預(yù)設(shè)相對(duì)位置處,并在控制輔助測(cè)試路由器關(guān)閉時(shí),檢測(cè)待測(cè)無(wú)線路由器當(dāng)前的第一接收靈敏度,在控制所述輔助測(cè)試路由器開啟,并關(guān)閉所述輔助測(cè)試路由器的無(wú)線功能時(shí),檢測(cè)所述待測(cè)無(wú)線路由器當(dāng)前的第二接收靈敏度,根據(jù)第一接收靈敏度以及第二接收靈敏度生成待測(cè)無(wú)線路由器的性能檢測(cè)結(jié)果,從而能夠模擬實(shí)際情況下路由器的PCB板和內(nèi)置天線相對(duì)于外殼的相對(duì)位置,并檢測(cè)有PCB板對(duì)路由器內(nèi)置天線的干擾和無(wú)PCB對(duì)路由器內(nèi)置天線的干擾狀態(tài)下的接收靈敏度,進(jìn)而能夠驗(yàn)證PCB板的輻射信號(hào)對(duì)路由器的天線性能的是否存在影響。
聲明:
“路由器性能檢測(cè)方法、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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