本發(fā)明公開(kāi)了一種光柵尺性能檢測(cè)方法和系統(tǒng)，其中光柵尺性能檢測(cè)方法包含以下步驟：運(yùn)行數(shù)控程序控制機(jī)床的各運(yùn)動(dòng)軸運(yùn)動(dòng)，使用信號(hào)采集模塊采集機(jī)床運(yùn)動(dòng)過(guò)程中的指令速度、指令位置，并使用待測(cè)光柵尺獲取機(jī)床運(yùn)動(dòng)的實(shí)際位置；獲取機(jī)床運(yùn)動(dòng)過(guò)程中的跟隨誤差；根據(jù)指令速度，形成有效指令位置和有效跟隨誤差；將有效指令位置等間隔化；將有效跟隨誤差以線性內(nèi)插的插值方法，得到等位置間隔的跟隨誤差數(shù)據(jù)序列；經(jīng)過(guò)帶通濾波器，得到濾波后的跟隨誤差數(shù)據(jù)序列；獲取濾波后的跟隨誤差數(shù)據(jù)序列的特征值，根據(jù)特征值評(píng)價(jià)待測(cè)光柵尺的性能。本發(fā)明采用低成本的技術(shù)方案，實(shí)現(xiàn)對(duì)光柵尺的性能進(jìn)行高精度的檢測(cè)。