本實用新型公開了一種霍爾集成電路性能檢測裝置,涉及霍爾集成電路性能檢測技術(shù)領(lǐng)域,包括底座,底座頂部前側(cè)固定連接有治具,底座頂部后側(cè)固定連接有直角彎板,直角彎板上設(shè)有升降組件,所述升降組件底端固定連接有移動組件,所述移動組件上固定連接有檢測針,所述治具內(nèi)部通過緩沖機(jī)構(gòu)連接有霍爾集成電路,所述緩沖機(jī)構(gòu)包括限位組件、彈簧組件和安裝組件,所述限位組件固定連接在治具內(nèi)部,所述安裝組件通過彈簧組件連接在限位組件上,所述安裝組件與彈簧組件均位于治具內(nèi)部,相對于現(xiàn)有技術(shù),本實用新型可有效對霍爾集成電路受到的過度擠壓力進(jìn)行緩沖,即可有效對霍爾集成電路進(jìn)行防護(hù),避免霍爾集成電路被壓損,從而避免經(jīng)濟(jì)損失。
聲明:
“一種霍爾集成電路性能檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)