本發(fā)明涉及一種基于模型識別的集成
芯片功能性能檢測方法測方法,包括如下步驟:步驟1:由主控平臺讀取IBIS模型文件,由模型解析單元分析出芯片的型號以及第一個輸入引腳的I/O特征曲線,把特征曲線翻譯成可測試的參數(shù)值,通過指令發(fā)送給參數(shù)接收/發(fā)送單元,再將此指令下發(fā)給信號模擬和檢測裝置,信號模擬與檢測裝置的微處理器根據(jù)控制信號源產(chǎn)生模擬電壓或邏輯電平經(jīng)待測芯片引腳驅(qū)動與保護電路給待測芯片輸入引腳;步驟2:開啟高速ADC,實時讀取被測芯片輸出引腳端的參數(shù)值并記錄,啟動參數(shù)接收/發(fā)送單元接收當(dāng)前組輸出信息并保存。使用IBIS模型作為集成芯片測試的依據(jù),不再需要去獲取專用的SCPI文件??梢詫崿F(xiàn)對任一芯片的功能與性能測試。
聲明:
“一種基于模型識別的集成芯片功能性能檢測方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)