本申請?zhí)峁┮环N主機性能檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質。該方法包括:在主機執(zhí)行當前交易任務的過程中,獲取所述主機的多個指標參數(shù),所述指標參數(shù)表征所述主機的性能;獲取所述多個指標參數(shù)中任一指標參數(shù),作為確定第一指標參數(shù);從所述多個指標參數(shù)中獲取與所述第一指標參數(shù)關聯(lián)的指標參數(shù),作為第二指標參數(shù);計算所述第一指標參數(shù)與所述第二指標參數(shù)之間的比值;若所第一指標參數(shù)與所述第二指標參數(shù)之間的比值不在指定范圍內,確定所述第一指標參數(shù)的檢測結果為異常,并根據(jù)所述第一指標參數(shù)與所述第二指標參數(shù)之間的比值輸出異常報告。本申請能夠提升對主機性能的檢測準確性。
聲明:
“一種主機性能檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)