本發(fā)明提供了一種可控硅
檢測儀,可控硅檢測儀包括:一個電源模塊、一個相位角選擇模塊、一個觸發(fā)信號生成模塊和一個信號檢測模塊;電源模塊用于輸出交流電壓信號;相位角選擇模塊用于根據(jù)人員設(shè)置的觸發(fā)相位角,對交流電壓信號進行缺失處理,以使交流電壓信號對應(yīng)的正弦波形產(chǎn)生缺失,且缺失部分對應(yīng)的相位角與觸發(fā)相位角相同;觸發(fā)信號生成模塊用于將缺失處理后的交流電壓信號轉(zhuǎn)換為對應(yīng)的方波觸發(fā)信號,并將方波觸發(fā)信號加載到待測可控硅的控制極上;述電源模塊還用于為待測可控硅的正負極施加交流電壓信號,信號檢測模塊用于對待測可控硅的正負極和電源模塊所形成回路中的電路信號進行檢測。本發(fā)明提高可控硅性能檢測的準確性。
聲明:
“可控硅檢測儀及可控硅性能檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)