本發(fā)明公開了一種電子元件性能檢測試驗臺,包括實驗臺,所述實驗臺內設有傳送機構,所述傳送機構包括設置在所述實驗臺內的實驗腔,所述實驗腔內設有檢測機構,所述檢測機構包括固定設置在所述第二傳送帶上的工作框,所述工作框內設有工作腔,所述工作腔下側內壁設有開口向下的半環(huán)形腔,本裝置能夠方便使用者對二極管進行檢測,免去了工作人員需要對二極管進行正負極的分辨,大大降低了檢測時間,也避免了因對正負極分辨的錯誤,導致對二極管的錯誤分類,通過能夠前后移動的推動板將正常的二極管推入到收集腔中,并對不合格的二極管進行壓縮,使其掉落到雜物腔中,大大加快了對二極管的分類,降低了人工損耗。
聲明:
“一種電子元件性能檢測試驗臺” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)