本發(fā)明公開了一種卡片性能檢測系統(tǒng),包括控制單元(1)以及分別與所述控制單元(1)電連接的傳送機構(gòu)(2)、掰開膠檢測機構(gòu)(3)、接觸檢測機構(gòu)(4)、非接檢測機構(gòu)(5)和頻率檢測機構(gòu)(6);所述傳送機構(gòu)(2)穿過所述掰開膠檢測機構(gòu)(3),所述非接檢測機構(gòu)(5)設(shè)于所述傳送機構(gòu)(2)的下方,所述接觸檢測機構(gòu)(4)和所述頻率檢測機構(gòu)(6)分別位于所述傳送機構(gòu)(2)的一側(cè);所述控制單元(1)控制卡片于所述掰開膠檢測機構(gòu)(3)、所述接觸檢測機構(gòu)(4)、所述非接檢測機構(gòu)(5)和所述頻率檢測機構(gòu)(6)中的至少一個檢測機構(gòu)中進(jìn)行檢測。其有益效果:提高了檢測效率,特別是在同時檢測多個項目時,操作方便,效率較高。
聲明:
“卡片性能檢測系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)