本發(fā)明公開了一種用于退偏器性能檢測的方法及裝置。檢測裝置的結構為:點狀光源發(fā)出的光經反射準直鏡反射,再依次通過起偏器、擴束系統(tǒng)、待檢測退偏器、縮束系統(tǒng)、檢偏器后,經聚焦鏡聚焦,在探測器上記錄得到的光信號。擴束系統(tǒng)和縮束系統(tǒng)采用伽利略或開普勒望遠結構,包括兩塊離軸拋物面鏡;擴束系統(tǒng)和縮束系統(tǒng)的結構參數(shù)相同,使用狀態(tài)為結構倒置。依據(jù)檢測信號,采用偏振靈敏度計算方法,得到檢測系統(tǒng)的偏振靈敏度,再依據(jù)擴束系統(tǒng)和縮束系統(tǒng)的透過率及穆勒矩陣,得到待檢測退偏器的偏振靈敏度。本發(fā)明提供的退偏器檢測裝置和方法,滿足了大口徑退偏器的檢測需要,可在寬波段下和高偏振靈敏性檢測要求條件下使用。
聲明:
“一種用于退偏器性能檢測的方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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