本實用新型提供一種集成電路的抗干擾性能檢測設(shè)備;包括設(shè)備架,設(shè)備架的底部通過螺栓安裝有抗干擾箱,且抗干擾箱的內(nèi)部通過軸承活動連接有螺柱,螺柱的外壁螺紋連接有移動件,螺柱的一端焊接有手柄,移動件的頂部通過螺栓安裝有抗干擾架,抗干擾架的外壁兩側(cè)均固定安裝有測試桿,測試桿的外部固定繞設(shè)有電磁圈,設(shè)備架頂部的一側(cè)焊接有調(diào)整箱,調(diào)整箱的內(nèi)壁一側(cè)通過螺栓安裝有電機,且電機的端部焊接有驅(qū)動件,調(diào)整箱的頂部活動插接有豎直桿,本設(shè)計在抗干擾箱中的螺柱轉(zhuǎn)動后,螺柱外部的移動件能夠?qū)⒖垢蓴_架和測試桿移動至集成電路附近,從而使集成電路進行抗干擾的檢測,且抗干擾強度能改變。
聲明:
“一種集成電路的抗干擾性能檢測設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)