本實(shí)用新型公開了一種LDMOS晶體管性能檢測(cè)裝置，包括檢測(cè)箱和晶體管本體，所述檢測(cè)箱內(nèi)腔的頂部固定連接有檢測(cè)器，所述檢測(cè)箱內(nèi)腔的兩側(cè)均活動(dòng)連接有支撐板，所述支撐板底部的兩側(cè)均固定連接有氣缸，所述氣缸的底部與檢測(cè)箱的內(nèi)壁固定連接，所述支撐板頂部的兩側(cè)均固定連接有連接板。本實(shí)用新型通過將晶體管本體放置在放置槽的內(nèi)腔，通過轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)盤，轉(zhuǎn)盤帶動(dòng)上端螺紋桿轉(zhuǎn)動(dòng)，上端螺紋桿帶動(dòng)上端皮帶輪轉(zhuǎn)動(dòng)，上端皮帶輪通過傳動(dòng)帶帶動(dòng)下端皮帶輪轉(zhuǎn)動(dòng)，下端皮帶輪帶動(dòng)下端螺紋桿轉(zhuǎn)動(dòng)，通過螺紋桿在支撐板內(nèi)腔轉(zhuǎn)動(dòng)的同時(shí)向一側(cè)運(yùn)動(dòng)，螺紋桿帶動(dòng)夾具向一側(cè)運(yùn)動(dòng)，直至夾具與晶體管本體的表面接觸，從而對(duì)晶體管本體進(jìn)行固定。