本發(fā)明提出一種基于三軸控制掃描的智能鎖觸控面板性能檢測方法,首先,將待測智能鎖觸控電子套件放入測試平臺,連接好通信線路后放入卡槽固定;其次,主控模塊控制三軸運(yùn)動平臺對觸控面板進(jìn)行觸點(diǎn)信息掃描,并記錄待測觸控電子套件反饋的觸點(diǎn)信息;最后,提出一種觸控性能評估算法對觸點(diǎn)信息進(jìn)行計(jì)算和分析,最終確定觸控按鍵的短路、斷路、不靈敏等性能。本發(fā)明無需對被測觸控面板和觸控區(qū)域進(jìn)行精準(zhǔn)定位,便于不同種類產(chǎn)品測試的切換,降低了人工干預(yù),提高了測試效率和可靠性。
聲明:
“基于三軸控制掃描的智能鎖觸控面板性能檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)