本說(shuō)明書(shū)實(shí)施例公開(kāi)了一種用于檢測(cè)光學(xué)性能的裝置及方法、光學(xué)性能檢測(cè)方法、電子設(shè)備。所述用于檢測(cè)成像系統(tǒng)光學(xué)性能的裝置包括:測(cè)試板,所述測(cè)試板上設(shè)置有至少一組測(cè)試圖案;移動(dòng)部件,用于使所述測(cè)試板相對(duì)成像系統(tǒng)移動(dòng),以使所述測(cè)試板上的每組測(cè)試圖案與所述成像系統(tǒng)中鏡頭的檢測(cè)點(diǎn)對(duì)齊;圖像采集設(shè)備,用于采集所述成像系統(tǒng)針對(duì)所述測(cè)試圖案在對(duì)齊后的成像所形成的圖像數(shù)據(jù),所述圖像數(shù)據(jù)用于檢測(cè)所述成像系統(tǒng)的光學(xué)性能。本說(shuō)明書(shū)實(shí)施例可以實(shí)現(xiàn)對(duì)成像系統(tǒng)的光學(xué)性能進(jìn)行檢測(cè)。
聲明:
“用于檢測(cè)光學(xué)性能的裝置及方法、光學(xué)性能檢測(cè)方法、電子設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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