本發(fā)明涉及一種碳化硅
復(fù)合材料圓管漏率性能檢測方法,將密封座與第一定位桿連接,密封座與第一定位桿之間設(shè)有第一密封墊,形成第一模具組件,將過渡塊與第二定位桿連接,過渡塊與第二定位桿之間設(shè)有第二密封墊,將過渡塊與真空檢漏接口連接,形成第二模具組件,將待檢測的碳化硅復(fù)合材料圓管的兩端分別與第一模具組件及第二模具組件連接,將真空檢漏接口與檢漏儀上的閥門連接,開啟抽真空處理,在碳化硅復(fù)合材料圓管的表面噴入惰性氣體,利用檢漏儀檢測數(shù)據(jù)的變化,完成碳化硅圓管的漏率檢測。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明解決了碳化硅圓管的氣密性檢測問題。
聲明:
“一種碳化硅復(fù)合材料圓管漏率性能檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)