本實用新型涉及檢測設備的技術領域,特別是涉及一種智能
芯片性能檢測機構,其通過設置,節(jié)省人力檢測和記錄,提高檢測的效率;包括檢測箱、隔板、蓄電池、中央處理器、故障標記存儲模塊、L型板、第一螺栓、電動推桿、檢測頭、滑塊和固定臺,檢測箱內設有空腔,隔板固定安裝在檢測箱內,蓄電池底端和隔板頂端固定連接,中央處理器底端和隔板頂端固定連接,蓄電池和中央處理器電連接,故障標記存儲模塊底端和隔板頂端固定連接,中央處理器和故障標記存儲模塊電連接,L型板頂端和隔板底端通過第一螺栓螺裝連接,電動推桿右端和L型板左端固定連接,電動推桿頂端和隔板底端固定連接,電動推桿的輸出端和檢測頭固定連接,檢測頭和中央處理器電連接。
聲明:
“智能芯片性能檢測機構” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)