本申請(qǐng)涉及空間真空密封技術(shù)領(lǐng)域,具體而言,涉及一種銦銀合金高真空密封性能檢測(cè)方法,包括如下步驟:步驟1:抽取銦銀合金密封產(chǎn)品樣本;步驟2:對(duì)銦銀合金密封產(chǎn)品的樣本進(jìn)行擠壓密封,模擬密封產(chǎn)品的工作情況;步驟3:通過環(huán)境工況模擬系統(tǒng)對(duì)銦銀合金密封樣本進(jìn)行實(shí)際環(huán)境工況模擬;步驟4:通過快速氣路接頭,將銦銀合金密封樣本與真空抽氣系統(tǒng)連接,并且抽氣至本底;步驟5:打開真空截止閥,通過氦質(zhì)譜檢漏儀完成銦銀合金密封產(chǎn)品樣本漏率的檢測(cè),即得到銦銀合金高真空密封產(chǎn)品的漏率。本申請(qǐng)能夠模擬銦銀合金密封產(chǎn)品所經(jīng)歷的各種空間環(huán)境,對(duì)銦銀合金密封產(chǎn)品的漏率進(jìn)行檢測(cè)。
聲明:
“一種銦銀合金高真空密封性能檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)