本發(fā)明公開了一種終端設(shè)備的流暢度性能檢測(cè)方法,它涉及智能終端(手機(jī)、Pad等)制造行業(yè)。它包括高速相機(jī)模塊A、圖像采集模塊B、圖像差異存儲(chǔ)模塊C、圖像區(qū)域分析識(shí)別模塊D、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊E及卡頓分析處理模塊F,高速相機(jī)模塊A與圖像采集模塊B、圖像差異存儲(chǔ)模塊C、圖像區(qū)域分析識(shí)別模塊D、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊E及卡頓分析處理模塊F協(xié)同工作,通過捕獲終端界面的運(yùn)動(dòng)過程,檢測(cè)運(yùn)動(dòng)過程中的卡幀點(diǎn)及卡頓過程持續(xù)的時(shí)長。本發(fā)明能夠檢測(cè)終端設(shè)備的流暢度指標(biāo),量化卡頓過程數(shù)據(jù),幫助廠商改善終端設(shè)備的流暢度。
聲明:
“終端設(shè)備的流暢度性能檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)