本發(fā)明公開了一種移動(dòng)電子標(biāo)簽性能檢測(cè)裝置及方法,包括測(cè)試裝置、待測(cè)通過測(cè)試通道的射頻識(shí)別電子標(biāo)簽、測(cè)試設(shè)備,其中測(cè)試裝置由移動(dòng)小車和測(cè)試通道組成;待測(cè)射頻識(shí)別電子標(biāo)簽粘貼在物品上;測(cè)試設(shè)備包括計(jì)算機(jī)、讀寫器及讀寫器天線裝置。具有待測(cè)電子標(biāo)簽的物品可以通過移動(dòng)小車通過測(cè)試通道,測(cè)試通道中裝有讀寫器天線。通過調(diào)節(jié)讀寫器及天線位置狀態(tài)和移動(dòng)小車的速度,讀寫器通過天線讀取物品上的電子標(biāo)簽,重復(fù)測(cè)試可獲得最優(yōu)的電子標(biāo)簽的讀取率。通過本發(fā)明的系統(tǒng)及方法,在滿足對(duì)物品固定粘貼位置上電子標(biāo)簽100%讀取的前提下,進(jìn)行天線位置方位和物品運(yùn)動(dòng)速度進(jìn)行個(gè)性化定制,為電子標(biāo)簽在制造業(yè)生產(chǎn)線、物流中的使用提供參考。
聲明:
“移動(dòng)電子標(biāo)簽性能檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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