本發(fā)明提供基于立體空間視覺掃描的來料元件質(zhì)量檢測(cè)一體化設(shè)備,涉及電子元件檢測(cè)領(lǐng)域,包括表面檢測(cè)裝置、形狀檢測(cè)裝置、性能檢測(cè)裝置和送料裝置,表面檢測(cè)裝置和性能檢測(cè)裝置位于形狀檢測(cè)裝置的兩側(cè),送料裝置和表面檢測(cè)裝置之間設(shè)有下料機(jī)械裝置,性能檢測(cè)裝置和送料裝置端部之間設(shè)有上料機(jī)械裝置,上料機(jī)械裝置和下料機(jī)械裝置均設(shè)有夾爪,表面檢測(cè)裝置內(nèi)部包括環(huán)形導(dǎo)軌,環(huán)形導(dǎo)軌表面滑塊安裝有第一攝像頭和第二攝像頭,形狀檢測(cè)裝置包括固定臺(tái),固定臺(tái)的頂部安裝第三攝像頭。解決了在對(duì)電子元件進(jìn)行送料和轉(zhuǎn)運(yùn)的過程中不夠精準(zhǔn)的問題、對(duì)于電子元件不能全方位的檢測(cè)的問題和對(duì)電子元件進(jìn)行視覺檢測(cè)的過程中不精準(zhǔn)的情況。
聲明:
“基于立體空間視覺掃描的來料元件質(zhì)量檢測(cè)一體化設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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