本發(fā)明實施例公開了一種基于磁盤故障檢測方法、裝置以及相關(guān)設(shè)備,所述方法包括:獲取從第一類型磁盤中采集到的性能檢測數(shù)據(jù),作為第一樣本數(shù)據(jù);獲取從第二類型磁盤中采集到的性能檢測數(shù)據(jù),作為第二樣本數(shù)據(jù);根據(jù)第一樣本數(shù)據(jù)和第二樣本數(shù)據(jù)調(diào)整檢測模型,使調(diào)整后的檢測模型對第一樣本數(shù)據(jù)和第二樣本數(shù)據(jù)進行異常檢測得到檢測狀態(tài)結(jié)果與已知狀態(tài)結(jié)果之間的差異量小于差異閾值,并將所述調(diào)整后的檢測模型確定為用于對第二類型磁盤進行故障檢測的目標(biāo)檢測模型。采用本發(fā)明,可以為數(shù)據(jù)體量小的磁盤進行準(zhǔn)確的故障識別。
聲明:
“一種磁盤故障檢測方法、裝置以及相關(guān)設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)