本發(fā)明涉及一種寄生運(yùn)動(dòng)原理壓電驅(qū)動(dòng)器動(dòng)態(tài)接觸過程測(cè)試裝置與方法,屬于精密機(jī)械領(lǐng)域。測(cè)試裝置包括基座、驅(qū)動(dòng)單元、動(dòng)態(tài)接觸檢測(cè)單元、位移輸出性能檢測(cè)單元、數(shù)據(jù)采集顯示單元,其中,驅(qū)動(dòng)單元通過y軸微調(diào)整機(jī)構(gòu)及導(dǎo)軌墊塊與基座的下板相連接,動(dòng)態(tài)接觸檢測(cè)單元的應(yīng)變片組貼附在驅(qū)動(dòng)單元的鉸鏈結(jié)構(gòu)推桿的凹槽內(nèi),位移輸出性能檢測(cè)單元通過z軸微調(diào)整機(jī)構(gòu)與基座的側(cè)板連接,數(shù)據(jù)采集顯示單元分別與動(dòng)態(tài)接觸檢測(cè)單元和位移輸出檢測(cè)單元相連接。優(yōu)點(diǎn)在于:可實(shí)現(xiàn)對(duì)寄生運(yùn)動(dòng)原理壓電驅(qū)動(dòng)器動(dòng)態(tài)接觸過程與位移輸出性能的同步測(cè)試,進(jìn)而解析驅(qū)動(dòng)器的運(yùn)動(dòng)過程和機(jī)理,為高性能壓電驅(qū)動(dòng)器的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)與性能改善提供依據(jù),在精密定位、精密加工、精密夾持、顯微操作等領(lǐng)域具有潛在應(yīng)用前景。
聲明:
“寄生運(yùn)動(dòng)原理壓電驅(qū)動(dòng)器動(dòng)態(tài)接觸過程測(cè)試裝置與方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)