本發(fā)明公開了一種雷達(dá)性能的檢測方法,包括:通過測試?yán)走_(dá)接收待測雷達(dá)發(fā)送的發(fā)射信號;對發(fā)射信號進(jìn)行濾波處理,得到待檢測信號;對待檢測信號進(jìn)行第一次信號放大處理,得到第一處理信號;基于第一預(yù)設(shè)條件對第一處理信號進(jìn)行數(shù)控衰減處理,得到降頻的放大信號;對放大信號進(jìn)行第一本振處理,得到第二處理信號;第一本振處理用于降低放大信號的頻率;通過測試?yán)走_(dá)的選擇指令,對第二處理信號執(zhí)行第一處理操作并得到待測雷達(dá)的發(fā)射功率,或,對第二處理信號執(zhí)行第二處理操作并得到測試信號,以使待測雷達(dá)根據(jù)測試信號得到待測雷達(dá)的接收功率;根據(jù)發(fā)射功率與接收功率,得到待測雷達(dá)的雷達(dá)性能檢測結(jié)果。本發(fā)明提高了雷達(dá)性能檢測的準(zhǔn)確度。
聲明:
“雷達(dá)性能的檢測方法、系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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