本發(fā)明涉及熱輻射性能測量技術領域內的一種熱輻射性能原位檢測系統,包括光源模塊、光源標定模塊、控制模塊、樣品室以及數據處理模塊;光源模塊,提供待測樣品進行輻照實驗與熱輻射性能檢測所需的光源;光源標定模塊,用于待測樣品與參考標準在同等條件下的熱輻射性能參數的比對;樣品室,對待測樣品進行性能測試以及數據采集;控制模塊包括運動控制單元與數據采集控制單元;數據處理模塊,獲取數據采集控制單元采集到的熱輻射性能檢測數據并通過處理軟件處理,獲得待測樣品的法向半球反射率。本發(fā)明還提供了一種熱輻射性能原位檢測方法。本發(fā)明能真實的測量空間環(huán)境模擬對樣品的熱輻射性能的影響。
聲明:
“熱輻射性能原位檢測系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
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