一種熒光粉測(cè)試系統(tǒng),包括XY平面坐標(biāo)定位機(jī)構(gòu)、被測(cè)LED夾具、電學(xué)性能檢測(cè)組件、積分球組件和光分析判斷模塊;所述XY平面坐標(biāo)定位機(jī)構(gòu)將被測(cè)LED夾具上的被檢測(cè)LED送到積分球組件下方,由電學(xué)性能檢測(cè)組件給被檢測(cè)LED通電,使被檢測(cè)LED發(fā)光,所述積分球組件將被檢測(cè)LED所發(fā)出的光采集后,輸送給光分析判斷模塊進(jìn)行分析判斷。本實(shí)用新型具有可事先對(duì)少量的LED在封光前進(jìn)行檢測(cè),以確定所配熒光粉是否是合符LED發(fā)光要求的熒光粉,從而使盲目生產(chǎn)LED成為過(guò)去的優(yōu)點(diǎn)。
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“熒光粉測(cè)試系統(tǒng)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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