本發(fā)明提供一種用于檢測
芯片的電子裝置,主要包括主機、導線、控制機構、檢測機構、分析機構和顯示機構。特征是:所述主機、控制機構、檢測機構、分析機構和顯示機構由導線連接,所述檢測機構由外觀檢測裝置和性能檢測裝置夠成,所述控制機構連接在檢測機構和分析機構兩端。本發(fā)明可通過顯示機構準確無誤地觀察出芯片的外觀特征及性能,操作者能夠對芯片檢測方便準確地操作。
聲明:
“一種用于檢測芯片的電子裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)